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技術文章

  • 2025

    1-15

    談談X射線熒光光譜儀在操作方面的建議

    X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子，使原子內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時，會放射出特征X射線，即X射線熒光。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析。通過分析樣品中不同元素產生的特征熒光X射線波長（或能量）和強度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達到定性定量分析的目的。以下是對X射線熒光光譜儀操作建議的詳細介紹：1、準備工作：確保儀器的電源、冷卻系統(tǒng)等設備正常運轉。保持工...

  • 2025

    1-13

    X射線熒光光譜儀有著怎樣的特點呢？

    X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子，使原子內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時，會放射出特征X射線，即X射線熒光。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析。通過分析樣品中不同元素產生的特征熒光X射線波長（或能量）和強度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達到定性定量分析的目的。X射線熒光光譜儀主要特點的詳細介紹：1、非破壞性分析：XRF技術不會對樣品造成任何形式的損害，使得珍貴或...

  • 2024

    12-30

    ROHS測試儀的結構介紹

    ROHS測試儀，即RoHS檢測儀，是用于檢測電子電氣設備中是否含有RoHS指令所限制的有害物質的儀器。這些有害物質包括鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、多溴二苯醚（PBDE）和多溴聯苯（PBB）。以下是ROHS測試儀的結構介紹：ROHS測試儀主要由以下幾個關鍵部分組成：激發(fā)源：ROHS測試儀通常使用X射線作為激發(fā)源。X射線與樣品中的元素相互作用，激發(fā)出元素的特征X射線，這是進行元素分析的基礎。探測器：探測器用于收集樣品被激發(fā)后產生的特征X射線。能量色散X...

  • 2024

    12-2

    XRF測試儀：現代元素分析的關鍵技術

    XRF測試儀，即X射線熒光光譜儀，是一種基于X射線熒光（XRF）原理的分析儀器，廣泛應用于材料科學、環(huán)境科學、地質學等多個領域。工作原理XRF測試儀的工作原理基于X射線與物質相互作用的特性。當高能X射線或伽瑪射線照射到樣品時，樣品中的原子被激發(fā)，內層電子被逐出，造成電子能級的躍遷。在電子從高能級向低能級躍遷過程中，會釋放出特征X射線，即熒光X射線。這些熒光X射線的能量和數量與樣品中元素的種類和含量直接相關，通過探測和分析這些X射線，可以確定樣品的化學成分。技術優(yōu)勢快速、無損測...

  • 2024

    10-26

    鍍層測厚儀是一種用于測量產品表面鍍層厚度的設備

    ?鍍層測厚儀?廣泛應用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)和商檢等領域。鍍層測厚儀的主要功能包括測量鍍層厚度、數據管理和不同的測量模式，以滿足不同工作現場的需求?。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。鍍層測厚儀的測量原理和技術特點如下：?測量原理?：鍍層測厚儀可以采用多種測量方法，包括磁性測...

  • 2024

    10-24

    X熒光光譜儀是一種用于元素分析和化學分析的儀器

    ?X熒光光譜儀(XRF光譜儀)是一種用于元素分析和化學分析的儀器，適用于金屬、玻璃、陶瓷、建材、地球化學、法醫(yī)學、考古學等領域。?X熒光光譜儀利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料，激發(fā)出次級X射線，這種現象被稱為X射線熒光(XRF)。這些次級X射線具有不同的能量或波長特性，通過檢測這些特征X射線，可以確定樣品中的元素組成和含量?。分類根據其結構和測量原理的不同，X熒光光譜儀可以分為波長色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種。波長色散型通過測量不同波長的X射線強度來進...

  • 2024

    10-15

    XRF測試儀：高效準確的元素分析儀器在現代科研與工業(yè)檢測中的應用

    在科技日新月異的今天，各種精密儀器在科研、工業(yè)、環(huán)境監(jiān)測等領域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其中，X射線熒光光譜儀（簡稱XRF測試儀）以其高效、準確的元素分析能力，成為了眾多領域重要的分析工具。XRF測試儀的工作原理基于X射線與物質相互作用產生的熒光現象。當高能X射線照射到被測樣品上時，樣品中的原子會吸收X射線能量并躍遷到高能級，隨后迅速返回到低能級，釋放出特征X射線熒光。這些熒光射線的能量和波長與樣品中元素的種類直接相關，因此，通過檢測這些熒光射線的特征，XRF儀能夠迅速、準確地確...

  • 2024

    9-20

    ?XRF檢測儀是一種基于X射線熒光原理的設備

    XRF檢測儀是一種常用于材料分析的儀器，能夠快速、準確地測定材料中的元素成分。?XRF檢測儀用于檢測和分析各種物質中的元素成分。?它的工作原理是利用高能X射線照射待測樣品，使樣品中的原子產生激發(fā)態(tài)，然后通過測量這些激發(fā)態(tài)原子發(fā)出的不同能量的熒光來確定樣品中含有的元素種類及其含量。XRF檢測儀具有分析速度快、精密度高的特點，能夠進行非破壞性的元素分析和化學分析。它的應用領域廣泛，包括但不限于地質勘探、珠寶鑒定、環(huán)境保護等。此外，XRF檢測儀還可以用于監(jiān)測廢水中的重金屬離子濃度，...

  • 2024

    8-19

    XRF測試儀是一種什么樣的分析儀器呢

    XRF測試儀利用X射線照射樣品，使樣品中的原子或分子內層電子被激發(fā)后返回到基態(tài)過程中發(fā)射出特征X射線(熒光X射線)，根據這些熒光X射線的波長和強度來定性分析樣品的化學組成(元素種類)和含量。工作原理1.X射線激發(fā):X射線管產生的X射線照射到樣品表面，激發(fā)樣品中的原子。2.熒光X射線發(fā)射:被激發(fā)的原子內層電子躍遷回基態(tài)時，釋放出能量，這些能量以熒光X射線的形式發(fā)射出來。3.探測與分析:探測器收集到熒光X射線，通過信號處理系統(tǒng)轉換為電信號，并進行放大和濾波等處理。計算機系統(tǒng)根據熒...

  • 2024

    7-12

    關于X射線熒光光譜儀重要作用介紹

    X射線熒光光譜儀(?XRF)?通過激發(fā)源(?X射線管)?產生入射X射線(?一次X射線)?，?這些入射X射線能夠激發(fā)被測樣品，?產生X熒光(?二次X射線)?。?探測器隨后對產生的X熒光進行檢測，?從而實現對物質的化學元素、?物相、?化學立體結構、?物證材料等進行測試。?此外，?X射線熒光光譜分析技術不僅是一種快速、?準確而又經濟的多元素分析方法，?還被用于無損檢測產品和材料質量，?以及微電路的光刻檢驗等。?因此，?X射線熒光光譜儀在冶金、?地質、?礦物、?石油、?化工、?生物、...
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